光電測(cè)量技術(shù)
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1) Twyman-Green干涉實(shí)驗(yàn)（a/b）
2) 傅里葉變換光學(xué)
3) 散斑干涉實(shí)驗(yàn)
4) 共焦測(cè)量實(shí)驗(yàn)
5) 納米測(cè)量光學(xué)實(shí)驗(yàn)
6) 激光斑紋照相
7) 硅光電池特性測(cè)量
8) 光學(xué)系統(tǒng)特性參數(shù)分析
9) 光電傳感器系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)（a/b）*
10) 縫寬或間隙的衍射測(cè)量*
11) 微孔直徑的衍射測(cè)量*
12) 形變的全場(chǎng)衍射測(cè)量*
13) 速度測(cè)量與震動(dòng)監(jiān)視*
14) 散斑編碼及圖像處理方法**
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光電測(cè)量技術(shù)
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光的波動(dòng)性：干涉
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眼睛、照相干板
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光信息的光電探測(cè)：電光效應(yīng)
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光電能量探測(cè)器
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CCD/CMOS探測(cè)器
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微機(jī)械控制：精密機(jī)械、光學(xué)元件
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光學(xué)調(diào)節(jié)架-位移控制
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ＣＳＹ１０Ｌ型實(shí)驗(yàn)課件
ＣＳＹ１０Ｌ主要實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目
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Ｔｗｙｍａｎ－Ｇｒｅｅｎ干涉儀
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Ｆｏｕｒｉｅｒ變換光學(xué)
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光纖雙臂干涉?zhèn)鞲衅?
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激光散斑
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共焦測(cè)量方法
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納米位移測(cè)量
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光柵莫爾條紋微位移測(cè)量
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Michelson干涉儀
Twyman-Green干涉儀
Fabry-Perot 干涉儀
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