開短路測試(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一種非?？焖侔l(fā)現(xiàn)芯片的各個(gè)引腳間的是否有短路，及在芯片封裝時(shí)是否missing bond wires.通常都會(huì)被放測試程序的最前面.它還能發(fā)現(xiàn)測試時(shí)接觸是否良好，探針卡或測試座是否有問題.
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開短路測試的測試原理比較簡單，分open_short_to_VDD 測試和open_short_to_VSS測試.一般來說芯片的每個(gè)引角都有泄放或說保護(hù)電路,是兩個(gè)首尾相接的二極管,一端接VDD,一端接VSS。信號(hào)是從兩個(gè)二極管的接點(diǎn)進(jìn)來.測試時(shí),先把芯片的VDD引腳接0伏(或接地),再給每個(gè)芯片引腳供給一個(gè)100uA到500uA從測試機(jī)到芯片的電流,電流會(huì)經(jīng)上端二極管流向VDD（0伏），然后測引腳的電壓,正常的值應(yīng)該是一個(gè)二極管的偏差電壓0.7伏左右,我們一般設(shè)上限為1.5伏，下限為0.2伏,大于1.5伏判斷為openfail,小于0.2伏判斷為shortfail.這就是open_short_to_VDD測試.
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open_short_to_VSS測試的原理基本相同.同樣把先VDD接0伏，然后再給一個(gè)芯片到測試的電流,電流由VSS經(jīng)下端二級(jí)管流向測試機(jī).然后測引腳的電壓,同樣正常的值應(yīng)該是一個(gè)二極管的偏差電壓0.7伏左右,只是電壓方向相反,上限還是為1.5伏，下限為0.2伏,大于1.5伏判斷為openfail,小于0.2伏判斷為shortfail.這就是open_short_to_VSS測試.
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