硬盤保養(yǎng)除了一個好的電源外，多關(guān)注硬盤的SMART數(shù)值變化，是硬盤保養(yǎng)的核心工作。

使用工具：HDtune 或 HDtunePro

運(yùn)行HDtune，選擇要查看的硬盤（硬盤必須通過 SATA 或 eSATA 連接，而不是 USB 連接，USB連接SMART參數(shù)顯示不完全），選擇“健康”標(biāo)簽，呈現(xiàn)的便是該硬盤的 SMART 參數(shù)。各項參數(shù)的詳解后面會講，首先講一下 SMART 的幾個重要參數(shù)：

（05）重映射扇區(qū)計數(shù)。物理壞道，一旦出現(xiàn)，表示硬盤已出現(xiàn)了無法修復(fù)的物理壞道。這種情況，首先盡快備份數(shù)據(jù)，如在保修期內(nèi)，馬上更換。如過保了就將就用吧，只要（05）沒有持續(xù)增加，直到數(shù)據(jù)值超過閥值，容量才開始減少，你可以通過一些工具屏蔽壞道，否則數(shù)據(jù)寫入壞道就很難讀出來了。而且如（05）持續(xù)增加，硬盤離壞也不遠(yuǎn)了，用不了多久就會超過閥值。

（C5）當(dāng)前待映射的扇區(qū)數(shù)。邏輯壞道，這種情況比較多見。特別是停電、死機(jī)、藍(lán)屏的次數(shù)比較多時，這項值出現(xiàn)機(jī)率就比較大。據(jù)體表現(xiàn)為拷貝時出現(xiàn) CRC 冗余校驗錯誤。一旦使用硬盤時出現(xiàn) CRC 冗余校驗錯誤，盡快用HDtune 查看的 C5 值，肯定不是0了。邏輯壞道一般是可以修復(fù)的。如果不重視，長期不修復(fù)，時間一長系統(tǒng)會把它當(dāng)作物理壞道看待，直接寫到（05）值里，那這個壞道就變成了物理壞道。

（C6）脫機(jī)無法校正的扇區(qū)數(shù)。比 C5 更重要，它是 C5 向 05 過渡的值。一旦出現(xiàn)，盡快備份數(shù)據(jù)，保修期則換，過保可嘗試低格硬盤，可能會消除 C5 值而使 C6 不再增加，也不向 05 添加。

（C7）Ultra DMA CRC錯誤計數(shù)。這項值比較容易增加，原因多為SATA數(shù)據(jù)線有問題或與硬盤接口接觸不良所至。如果此項值持續(xù)增加，換根數(shù)據(jù)線吧。

S.M.A.R.T

S.M.A.R.T(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology /自我監(jiān)測、分析與報告技術(shù))是為了提高硬盤數(shù)據(jù)的安全性而開發(fā)的。它可以使硬盤實時檢查自身的狀態(tài)，通過一定機(jī)理及時分析出潛在的問題，報告給系統(tǒng)，有時甚至能給出預(yù)計的硬盤故障日期，實際就是一種預(yù)警技術(shù)。這個功能可以比較客觀的反映硬盤目前的健康狀況。

怎么看這類屬性？
主要是看Raw和Worst的值是否還在臨界值之內(nèi)(>或<臨界值)
一般使用軟件如HDTune、CrystalDiskInfo等，一般屬性中有黃色或者紅色你就要注意了，硬盤可能快壞了，要是還在保修期內(nèi)，就趕緊備份數(shù)據(jù)，送去檢修。
下面我們來介紹各個屬性(按2010年2月11日維基百科 上的解釋)
ID Hex =英文屬性名 / 中文屬性名 屬性描述
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01 01 =Read Error Rate / (底層)數(shù)據(jù)讀取錯誤率
指從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時發(fā)生的硬件讀取錯誤的比率，Raw值對于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的。
*以上為Wiki上的英文翻譯版本，此屬性貌似存在分歧，有的說值高了好，有的說低了好,此處我們還是按照Wiki上的吧，反正只要 Worst不小于 Threshold 就行了。
**這里的Raw值也可能不同，比如我筆記本上的ST硬盤就Raw為0，而臺式機(jī)上1.5T的ST就為227901540。

02 02 =Throughput Performance / 吞吐性能(讀寫通量性能)
Raw值越高越好
整體(普通)的硬盤驅(qū)動器的吞吐性能。如果這個屬性的值一直在下降有很大的可能性是硬盤有問題了。
* 一般在進(jìn)行了人工 Offline S.M.A.R.T. 測試以后才會有值。

03 03 =Spin-Up Time / 馬達(dá)旋轉(zhuǎn)到標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速所需時間
Raw值越低越好
主軸旋轉(zhuǎn)加速的平均時間(從零轉(zhuǎn)速到完全運(yùn)轉(zhuǎn)(標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速)[毫秒])。
單位也可能為秒。
如果是0的話證明這一項沒有讀對，或者是這一項的數(shù)據(jù)生成錯誤。不應(yīng)該出現(xiàn)0的結(jié)果。

04 04 =Start/Stop Count / 啟動/停止計數(shù)
馬達(dá) 啟動/停止 周期的計數(shù)。當(dāng)馬達(dá)啟動或硬盤完全停止工作后(斷開電源)啟動和硬盤從睡眠模式回復(fù)到先前狀態(tài)，計數(shù)都會增加。
*一般來說開機(jī)一次這個就加1，也可以看做是通電次數(shù)，這一般是個壽命參考值，本身不具有任何指標(biāo)性，購買硬盤時可以參考此值。

05 05 =Reallocated Sectors Count / 重新配扇區(qū)的計數(shù)
Raw值越低越好
對重新分配的扇區(qū)的計數(shù)，當(dāng)硬盤發(fā)現(xiàn)一個 讀取/寫入/校驗錯誤時它將這個扇區(qū)標(biāo)示為“重新分配”，并且將數(shù)據(jù)傳輸?shù)揭粋€特殊的保留區(qū)(空閑區(qū))。這個過程也稱為是“重定向”，這個重新分配的扇區(qū)叫做“重新映射”。這就是為什么，現(xiàn)在的硬盤當(dāng)進(jìn)行表面測試的時候是找不到“壞塊”的，所有的壞塊都被隱藏在重新分配的扇區(qū)中。然而，隨著重新定位的扇區(qū)增加，讀取/寫入速度趨向于降低。Raw值通常代表一系列已經(jīng)發(fā)現(xiàn)和重映射的壞扇區(qū)，因此，這個屬性值越高，硬盤就有越多的扇區(qū)被重定位，所以這個值是越小越好。
* 理想情況下這個值應(yīng)該為0，如果不為0也不要太驚慌，而是應(yīng)該比較密切的關(guān)注這個值的變化情況：如果連續(xù)幾周沒有變化，那你應(yīng)該可以放心的繼續(xù)使用比較長的一段時間；如果這個值持續(xù)攀升，那么請盡快備份所有數(shù)據(jù)，并考慮購買新硬盤。

06 06 =Read Channel Margin / 讀取通道邊界
讀取數(shù)據(jù)時通道的邊界，這個屬性的功能并不明確

07 07 =Seek Error Rate / 尋道錯誤率
磁頭尋道錯誤的比率，如果機(jī)械定位系統(tǒng)中有局部的故障，那么尋道錯誤率會增加，這種故障是多種因素造成的。Raw值對于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的

08 08 =Seek Time Performance / 尋道時間性能
Raw值越高越好
磁頭尋道操作的平均性能，如果這個屬性的值持續(xù)下降，這是機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志

09 09 =Power-On Hours (POH) / 累計通電時間
Raw值越低越好
通電時間計數(shù)，Raw值顯示在通電狀態(tài)下的總小時數(shù)(或者是分鐘，秒，取決于制造商)
磁盤加電時間。初始值的字段顯示為此裝置總開機(jī)時間的累計。
* 參考磁盤廠家給的該款硬盤的 MTBF(平均故障間隔時間) 可以估計故障概率。但是也有可能超過MTBF而不會出現(xiàn)故障，因為統(tǒng)計數(shù)據(jù)對于個體來說是不精確的，是一個壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。
**購買硬盤時可以看此值，新的硬盤一般為0或者幾十以內(nèi)，過分大的可能就是被人用過了。

10 0A =Spin Retry Count 或 Spin-up Retry Count / 旋轉(zhuǎn)重試計數(shù)或 馬達(dá)重試計數(shù)
Raw值越低越好
馬達(dá)重試啟動嘗試的的總數(shù)，這個屬性存儲馬達(dá)嘗試啟動的到全速運(yùn)轉(zhuǎn)(第一次嘗試失敗的情況)的總數(shù)，這個屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志
* 理想情況應(yīng)該為0，在某些情況下可能人為造成這個值的非故障升高，比如電壓供給不足。

11 0B =Recalibration Retries / 校準(zhǔn)重試
Calibration_Retry_Count / 校準(zhǔn)重試計數(shù)
Raw值越低越好
這個屬性指被要求重新校驗的次數(shù)(第一次嘗試失敗的情況下)。這個屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志

12 0C =Power Cycle Count / 通電周期計數(shù)
這個屬性是指這個硬盤電源 開/關(guān) 周期的總數(shù)。
這是個壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。

13 0D =Soft Read Error Rate / 軟件讀出誤碼率(可校正讀出誤碼率)
Raw值越低越好
報告給操作系統(tǒng)的未修正的讀取錯誤。
高值暗示有扇區(qū)不穩(wěn)定。

183 B7 =SATA Downshift Error Count / SATA 降檔錯誤計數(shù)
西部數(shù)據(jù)和三星的屬性。

184 B8 =End-to-End error / 端對端錯誤
Raw值越低越好
這個屬性是HP的SMART IV技術(shù)的一部分，它表示傳輸通過高速緩存內(nèi)存數(shù)據(jù)緩沖區(qū)后主機(jī)和硬盤驅(qū)動器間的校驗數(shù)據(jù)不匹配。

185 B9 =Head Stability / 頭穩(wěn)定性
西部數(shù)據(jù)的屬性。

186 BA =Induced Op-Vibration Detection / 感應(yīng)運(yùn)算振動檢測
西部數(shù)據(jù)的屬性。

187 BB =Reported Uncorrectable Errors / 反饋無法校正的錯誤
Raw值越低越好
不能使用硬件ECC恢復(fù)的錯誤總數(shù)。

188 BC =Command Timeout / 命令超時
Raw值越低越好
因為HDD超時導(dǎo)致放棄操作的數(shù)量，通常情況下，這個屬性值應(yīng)該等于0，如果這個只遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于0，那么，很可能電源供應(yīng)有很嚴(yán)重的問題，或者數(shù)據(jù)線被氧化。

189 BD =High Fly Writes / 高飛寫入
Raw值越低越好
HDD生產(chǎn)商實現(xiàn)一個飛行高度監(jiān)視器來嘗試對于檢測到記錄頭正在飛出它的正常操作范圍時的寫入操作提供額外的保護(hù)，如果發(fā)生不安全的飛行高度條件，寫入進(jìn)程停止工作，信息將被重寫或者重定向到磁盤上一個安全的區(qū)域。這個顯示在硬盤生命周期內(nèi)檢測到的這些錯誤的總數(shù)。這個特性實現(xiàn)在大多數(shù)現(xiàn)代的希捷驅(qū)動器和一些西部數(shù)據(jù)的驅(qū)動器中，西部數(shù)據(jù)驅(qū)動器開始于 WD企業(yè)級WDE18300和WDE9180 Ultra2 SCSI硬盤驅(qū)動器，它將被包含在未來所有西部數(shù)據(jù)企業(yè)級產(chǎn)品中。

190 BE =Airflow Temperature (WDC) / 氣流溫度(西部數(shù)據(jù))
Raw值越低越好
西部數(shù)據(jù)硬盤上的氣流溫度(和[C2]的 Temperature 數(shù)值一樣，但是在有些型號上臂當(dāng)前值會少50.此值已經(jīng)廢棄了)。

190 BE =Temperature Difference from 100 / 從100開始的溫差
Raw值越高越好
值和 (100 – 溫度°C)相同, 允許制造商對于符合的最高溫度設(shè)置一個最小限制(可能是希捷專有？)。

191 BF =G-sense Error Rate / 加速度錯誤率 或 震動偵測錯誤率
Raw值越低越好
因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。

192 C0 =Power-off Retract Count / 斷電磁頭縮回計數(shù)
Emergency Retract Cycle Count (Fujitsu) / 緊急回縮周期計數(shù)(富士通)
Raw值越低越好
磁頭被載離媒體的次數(shù)計數(shù)。磁頭能在沒完全斷電的前縮回。
*這個屬性所顯示的數(shù)字表示這塊磁盤自動關(guān)機(jī)(突然斷電)的次數(shù)。

193 C1 =Load Cycle Count / 磁頭伸出周期計數(shù)
Load/Unload Cycle Count (Fujitsu) / 磁頭升降周期計數(shù)(富士通)
Raw值越低越好
從磁頭零區(qū)域加載/卸載(升降)周期的次數(shù)。通常的便攜式電腦(2.5英寸)加載(伸出)周期的壽命為200,000到600,000 ,一些便攜式電腦的驅(qū)動器被設(shè)計成當(dāng)5秒內(nèi)沒有任何活動時就卸載(縮回)磁頭。許多Linux安裝程序后臺1分鐘內(nèi)只寫入文件系統(tǒng)幾次。因此，每小時可能有100或更多次的磁頭加載(伸出)周期，并且可能在1年之內(nèi)就超出磁頭伸出周期額定值。
*這是一個壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。

194 C2 =Temperature / 溫度
Raw值越低越好
當(dāng)前的內(nèi)部溫度。
* 具體溫度極限參考硬盤廠家各款硬盤的技術(shù)指標(biāo)。

195 C3 =Hardware ECC Recovered / 硬件ECC校正
Raw值對于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的。

196 C4 =Reallocation Event Count / 重新分配事件計數(shù)
Raw值越低越好
重新映射操作的計數(shù)。這個屬性的Raw值顯示了總的嘗試從重新分配扇區(qū)轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)到空閑空間的次數(shù)。不管成功與否都會被記錄。
* 這個計數(shù)就包含了上次讀操作有錯誤的不穩(wěn)定扇區(qū)。如果下次這些扇區(qū)讀操作無錯誤，這個值可能減少。

197 C5 =Current Pending Sector Count / 目前待映射扇區(qū)數(shù)
Raw值越低越好
“不穩(wěn)定”扇區(qū)總數(shù)(因為讀取錯誤，等待重新映射)。如果一個不穩(wěn)定的扇區(qū)隨后能成功寫入或讀取，這個值將降低，這個扇區(qū)將不被重新映射。一個讀寫錯誤的扇區(qū)不會被重新映射(因為以后它有可能又能讀寫)；取而代之的是，驅(qū)動器固件將記住此扇區(qū)需要被重新映射。并且會在當(dāng)其被寫入時重新映射。
*這里有個問題，即當(dāng)被固件記錄后，有些文章寫到只有在寫入出錯的時候它才會被重新映射，而Wiki上的原文是“and remaps it the next time it's written.”故這里標(biāo)記一下。

198 C6 =Uncorrectable Sector Count / 無法校正扇區(qū)數(shù)
Off-Line Scan Uncorrectable Sector Count (Fujitsu) / 脫機(jī)無法校正扇區(qū)數(shù)(富士通)
Raw值越低越好
讀寫錯誤不能被校正的扇區(qū)總數(shù)。這個屬性值的升高意味著盤片表面有缺陷或者是機(jī)械子系統(tǒng)有問題。
* 這些扇區(qū)目前已經(jīng)不能讀取，如果有文件使用這些扇區(qū)，則操作系統(tǒng)會返回讀取錯誤；當(dāng)下一次寫操作發(fā)生時硬盤會對扇區(qū)自動重定位；同時，重定位扇區(qū)計數(shù) (Reallocated Sector Count)增加，這個值減少。

199 C7 =UltraDMA CRC Error Count / Ultra DMA CRC 錯誤計數(shù)
Raw值越低越好
在數(shù)據(jù)傳輸錯通過接口電纜時被ICRC(接口循環(huán)冗余校驗)所確定的錯誤總數(shù)。
* 如果這個值不為0，而且繼續(xù)增加，則表示 硬盤控制器-數(shù)據(jù)線-硬盤接口有錯誤發(fā)生?？梢詸z查一下接口和數(shù)據(jù)線。

200 C8 =Multi-Zone Error Rate (Western Digital) / 多區(qū)域錯誤率(西部數(shù)據(jù))
Raw值越低越好

200 C8 =Write Error Rate (Fujitsu) / 寫入錯誤率(富士通)
Raw值越低越好
當(dāng)寫入一個扇區(qū)時錯誤的總數(shù)。
* 一般不為零也不要緊，但是如果持續(xù)快速升高，暗示盤體/磁頭機(jī)械有問題。

201 C9 =Soft Read Error Rate / 軟讀出誤碼率(可校正讀出誤碼率)
Raw值越低越好

202 CA =Data Address Mark errors / 數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤
Raw值越低越好
數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤(或供應(yīng)商特有)

203 CB =Run Out Cancel / ECC錯誤發(fā)生率
ECC Errors (Maxtor) / ECC錯誤 (邁拓)
Raw值越低越好
ECC錯誤的數(shù)量。

204 CC =Soft ECC Correction / 軟件ECC校正
Raw值越低越好
因軟件ECC導(dǎo)致的錯誤總數(shù)。

205 CD =Thermal Asperity Rate (TAR) / 過溫率
Raw值越低越好
因溫度過高導(dǎo)致的錯誤數(shù)量。
*溫度過高的頻率，代表主軸馬達(dá)可能受損，或是散熱不良。

206 CE =Flying Height / 飛行高度
磁頭離盤片表面的高度。太低將增加頭部撞擊機(jī)率，太高將增加讀取錯誤機(jī)率。

207 CF =Spin High Current / 旋上高電流
Raw值越低越好
當(dāng)前用來使驅(qū)動器馬達(dá)旋轉(zhuǎn)所用的電涌(電流)量。
*也有資料寫：主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)時所使用的電流量，耗電量變大意味著軸承可能磨損。

208 D0 =Spin Buzz
因電力不足所啟動馬達(dá)所需的重試次數(shù)。

209 D1 =Offline Seek Performance / 離線尋軌性能
驅(qū)動器內(nèi)部測試時的尋道性能。

211 D3 =Vibration During Write / 寫入時震動
寫入時震動。

212 D4 =Shock During Write / 寫入時受沖擊
寫入時受沖擊。

220 DC =Disk Shift / 磁盤移位
Raw值越低越好
盤片對于軸心的位移距離(通常是由于沖擊或者熱漲冷縮),衡量單位未知。
*通常由強(qiáng)烈的撞擊或墜落造成。

221 DD =G-Sense Error Rate / 加速度錯誤率(震動偵測錯誤率)
Raw值越低越好
因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。

222 DE =Loaded Hours / 作業(yè)時間
數(shù)據(jù)加載操作時所花費(fèi)的時間。
(磁頭電樞的運(yùn)動)

223 DF =Load/Unload Retry Count / 磁頭升降重試次數(shù)
磁頭改變位置的次數(shù)。

224 E0 =Load Friction / 加載摩擦
Raw值越低越好
在運(yùn)行時因機(jī)械部分的摩擦而產(chǎn)生的阻力。

225 E1 =Load/Unload Cycle Count / 磁頭升降周期計數(shù)
Raw值越低越好
加載(伸出)周期總數(shù)。

226 E2 =Load 'In'-time / 載入時間
加載磁頭的總時間(不計在停放區(qū)所花費(fèi)的時間)。

227 E3 =Torque Amplification Count /扭矩放大計數(shù)
Raw值越低越好
嘗試彌補(bǔ)盤片速度變化的次數(shù)。

228 E4 =Power-Off Retract Cycle / 斷電磁頭縮回周期
Raw值越低越好
磁頭電樞因為斷電自動縮回的次數(shù)。

230 E6 =GMR Head Amplitude / 巨磁電阻頭振幅
“顛簸”(重復(fù)前進(jìn)/后退磁頭動作的距離)的振幅。

231 E7 =Temperature / 溫度
Raw值越低越好
驅(qū)動器溫度。

240 F0 =Head Flying Hours / 磁頭飛行小時
磁頭在定位的時間。
*這是一個壽命參考值，但本身不具任何指標(biāo)性。

240 F0 =Transfer Error Rate (Fujitsu) / 傳輸錯誤率(富士通)
數(shù)據(jù)傳輸時連接被重置的次數(shù)的計數(shù)。

241 F1 =Total LBAs Written / 總 LBAs 寫入
總 LBAs 寫入。

242 F2 =Total LBAs Read / 總LBAs 讀取
總 LBAs 寫入。
有些S.M.A.R.T.工具報告它的Raw值是一個復(fù)數(shù)，實際是因為它是48位而不是32位的。

250 FA =Read Error Retry Rate / 讀取錯誤重試率
Raw值越低越好
從磁盤讀取時出現(xiàn)錯誤的次數(shù)。

254 FE =Free Fall Protection / 自由落體保護(hù)
Raw值越低越好
檢測到“自由落體”的次數(shù)。