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      粒徑統(tǒng)計(jì)之從電鏡圖到數(shù)據(jù)圖——簡(jiǎn)單而實(shí)用的小軟件ImageJ(一)

       solomon214 2016-07-13

      前言:


      友情提示: 大家直接在百度中搜索ImageJ就可以找到這塊軟件,軟件本身也不大,下起來很方便,祝大家使用愉快!




      ImageJ的功能很多(這是為什么我們選取ImageJ來分享的一個(gè)原因),統(tǒng)計(jì)粒徑的方式也有多種,今天跟大家分享一種最常規(guī)的方式——手動(dòng)統(tǒng)計(jì)粒徑。后續(xù)我們會(huì)對(duì)其他的方式也進(jìn)行一些基本的介紹,敬請(qǐng)期待。


      第一步:利用ImageJ打開圖片文件。

      ImageJ是一個(gè)基于java的公共的圖像處理軟件,它能夠處理TIFF, PNG, GIF, JPEG, BMP, DICOM, FITS等多種格式的圖片(只要將SEM,TEM圖片變成這些格式就可以用ImageJ進(jìn)行處理了)。


      操作:點(diǎn)擊ImageJ菜單欄中File--Open,找到想要打開的TIF或者JPG文件,將其打開,得到下圖右所示界面。


      備注:TEM圖片有的時(shí)候是DM3的格式,需要先通過Gatan DigitalMicrograph(有機(jī)會(huì)后面也會(huì)跟大家進(jìn)行分享)將其轉(zhuǎn)變?yōu)門IF或者JPG格式。


      第二步:設(shè)置標(biāo)尺。

      標(biāo)尺對(duì)于一個(gè)圖片的重要性用不著我廢話,這里,我只講操作。


      a. 在工具欄中找到畫線工具,然后采用它畫一條直線,與標(biāo)尺長(zhǎng)度重合;

      (備注:如果標(biāo)尺太小,可以通過縮放工具將圖片放大之后,再用畫線工具畫直線)



      b. 在ImageJ的菜單欄中找到Analyze-->Set scale,在彈出來的窗口中,Known Distance一欄中填入標(biāo)尺的已知長(zhǎng)度,Unit of Length中更改標(biāo)尺的單位。然后,點(diǎn)擊OK完成標(biāo)尺的設(shè)置。


      設(shè)置標(biāo)尺實(shí)際上就是要得到像素長(zhǎng)度和已知標(biāo)尺長(zhǎng)度的比例尺,這樣畫一條線就可以通過這個(gè)比例直接得到這條線的真實(shí)長(zhǎng)度。


      第三步:量取粒徑。

      設(shè)置好標(biāo)尺以后,就可以通過劃線來方便地量取納米顆粒的粒徑尺寸了。


      a. 采用畫線工具,劃出某一顆粒的直徑(如果顆粒太小,可以采用縮放工具進(jìn)行縮放),然后點(diǎn)擊菜單中Analyze-->measure,在彈出的result窗口中,length即為測(cè)得的納米顆粒粒徑數(shù)據(jù)。



      b. 標(biāo)記好已經(jīng)統(tǒng)計(jì)過的顆粒。

      一般而言,粒徑統(tǒng)計(jì)應(yīng)該統(tǒng)計(jì)最少100個(gè)納米顆粒,為了保證統(tǒng)計(jì)的準(zhǔn)確性,不要重復(fù)統(tǒng)計(jì)。ImageJ中有一個(gè)標(biāo)記工具,可以讓大家很方便地知道哪個(gè)顆粒已經(jīng)統(tǒng)計(jì)過了。


      操作:點(diǎn)擊Analyze-->Label即可,每量取一個(gè)納米顆粒之后,Label一下,可以避免重復(fù)統(tǒng)計(jì)。


      第四步:統(tǒng)計(jì)結(jié)果導(dǎo)出。

      待100顆納米顆粒全部統(tǒng)計(jì)完畢之后,點(diǎn)擊result窗口,在菜單中選取save as進(jìn)行保存,會(huì)得到一個(gè)XLS文件。



      第五步:統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析。

      統(tǒng)計(jì)結(jié)果的分析我們還是采用origin來進(jìn)行。

      具體操作步驟如下:

      a. 打開xls文件,將length這一列數(shù)據(jù)拷貝到origin中。


      b. 選中該列,然后點(diǎn)擊Origin菜單欄中Statistic-->Descriptive Statistic-->Frequency count;



      c. 在彈出的窗口中可以選擇統(tǒng)計(jì)的參數(shù),包括最小值(minimum),最大值(maximum),增量(Incremen)等。


      d. 設(shè)置好之后點(diǎn)擊OK,可以得到下圖所示的表格。


      e. 選中其中的count一欄,然后做column圖,并對(duì)坐標(biāo)軸進(jìn)行美化,得到上圖所示的粒徑分布圖。


      f. origin中如何求取平均值和標(biāo)準(zhǔn)差?

      以粒徑統(tǒng)計(jì)為例,在b步驟中選取該列后點(diǎn)擊Origin菜單欄中Statistic-->Descriptive Statistic-->Statistics on column,在彈出的窗口中,可以看到平均值和標(biāo)準(zhǔn)差。


      一般,粒徑分布圖中, 人們會(huì)把平均值和標(biāo)準(zhǔn)差列在分布圖上,如下圖所示。



      至此,粒徑統(tǒng)計(jì)的整個(gè)過程就結(jié)束了。有疑問?試一試吧,有什么不懂的可以留言討論!


      聲明:這里分享的粒徑統(tǒng)計(jì)方法并不是唯一的,也可能不是最優(yōu)的,只是提供一種可行的方式,后期我們還會(huì)推出其他簡(jiǎn)潔的方式,敬請(qǐng)期待!




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