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      AAS與ICP比較與選擇方法知識(shí)大全

       Moia藏經(jīng)閣 2016-09-11


      AAS顧名思義,就是原子吸收光譜法,該法具有檢出限低、準(zhǔn)確度高、選擇性好(即干擾少)、分析速度快等優(yōu)點(diǎn)。ICP原子發(fā)射光譜儀,是根據(jù)試樣中被測(cè)元素的原子或離子,對(duì)各元素進(jìn)行定性分析和定量分析的儀器,該儀器具有樣品用量少,應(yīng)用范圍廣且快速,靈敏和選擇性好等特點(diǎn)。

      ICP是否會(huì)完全取代AAS,它們各有什么優(yōu)缺點(diǎn),下面對(duì)ICP-MS(等離子體質(zhì)譜)、ICP-AES(全譜直讀等離子體光譜)、GFAAS(石墨爐原子吸收)和FlameAAS(火焰原子吸收)4種技術(shù)的抗干擾能力、技術(shù)指標(biāo)、操縱難度、樣品分析能力及投資運(yùn)行用度等進(jìn)行分析和比較。

       

      先從AESAAS區(qū)別說(shuō)起

       

      原子發(fā)射光譜分析法AES)是利用物質(zhì)中不同的原子或離子在外層電子發(fā)生能級(jí)躍遷時(shí)產(chǎn)生的特征輻射來(lái)測(cè)定物質(zhì)的化學(xué)組成的方法。需要一個(gè)很強(qiáng)的激發(fā)光源,ICP就是一個(gè)很好的激發(fā)光源。

      ※在一定頻率的外部輻射光能激發(fā)下,原子的外層電子在由一個(gè)較低能態(tài)躍遷到一個(gè)較高能態(tài)的過(guò)程中產(chǎn)生的光譜就是原子吸收光譜(AAS)。

      1)一般來(lái)說(shuō)AES在多元素測(cè)定能力上優(yōu)于AAS,但是AES在操作上比AAS來(lái)的復(fù)雜;還有就是AES由譜線(xiàn)重疊引起的光譜干擾較嚴(yán)重,而AAS就小的多;

      2)原子發(fā)射比吸收測(cè)定范圍要大,對(duì)于ICP而言準(zhǔn)確性也較高。有些元素原子吸收是無(wú)法測(cè)定的,但發(fā)射可測(cè),如,PS 等;

      3AAS比較普遍,其價(jià)格相對(duì)AES便宜,操作也比較簡(jiǎn)單。 

       

      如何更好的使用好ICP光譜儀

       

      樣品前處理的過(guò)程:

      i根據(jù)樣品含量確定分析方法及其稱(chēng)樣量,確保待測(cè)元素的含量,在ICP光譜儀檢測(cè)范圍內(nèi)。

      ii確保樣品完全分解,無(wú)損失、無(wú)污染。

      iii選擇適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì),最好為硝酸和鹽酸,盡量少用硫、磷酸。

      vi 確保未使用對(duì)儀器有害的試劑.(如,HF,強(qiáng)堿等)。

      這些術(shù)語(yǔ),你有必要知道

      儀器的檢出限:DL=3σ(n=11)    

      檢定下限:5DL

      方法檢出限(MDL):在有基體存在的情況下測(cè)得的檢出限

      檢定下限:5MDL 

      ※在基體復(fù)雜或者不能匹配的情況下,無(wú)法測(cè)定檢出限,可采用5~10倍的儀器檢定下限(5DL)來(lái)代替也可采用加標(biāo)回收的方法來(lái)確認(rèn)方法檢定下限。

      樣品溶液中固溶物的含量:TDS

      標(biāo)準(zhǔn)玻璃同心霧化器TDS<>

      高鹽玻璃同心霧化器TDS應(yīng)在1%~10%

      Burgener霧化器TDS>10%

      ICP光譜儀的測(cè)定范圍

      ICP光譜儀的測(cè)定下限通常>5MDL

      ICP光譜儀的測(cè)定上限通常在20%~30%左右

      2、譜線(xiàn)選擇

      I.低含量元素選擇靈敏線(xiàn),高含量元素選擇次靈敏線(xiàn)或非靈敏線(xiàn)(盡可能保證IR<2000-3000counts>

      II.確保譜線(xiàn)無(wú)基體或主量元素干擾,若無(wú)法避免可采用基體匹配或干擾系數(shù)校正(IEC’s)

      3、背景扣除及其位置的選擇

      i.將背景位置定在盡可能平坦的區(qū)域(無(wú)小峰)

      ii.左背景、右背景以及左右背景強(qiáng)度的平均值盡可能與譜峰背景強(qiáng)度一致。

      4、分析條件最佳化

      影響靈敏度的因素:霧化器壓力、RF功率、輔助氣

      △E=E激發(fā)態(tài)-E基態(tài)=hc/λ發(fā)射

      5、通過(guò)有效質(zhì)控手段,確保結(jié)果準(zhǔn)確可靠

      i通過(guò)質(zhì)控樣(QC),來(lái)控制儀器的漂移,并對(duì)工作曲線(xiàn)進(jìn)行校準(zhǔn)。

      ii如果分析結(jié)果漂移過(guò)大,需查明原因。

      6、穩(wěn)定性差原因剖析

      第一種情況:峰位上下波動(dòng)。

      首先確認(rèn)是光學(xué)系統(tǒng)還是進(jìn)樣系統(tǒng)造成的連續(xù)測(cè)定Ar433.5、Ar426.6和C193.0的穩(wěn)定性,設(shè)定分析條件為:RF 功率:950W

      清洗泵速:0

      分析泵速:0

      霧化器壓力:30Psi

      輔助氣:1.0L/min

      i:Ar線(xiàn)和C線(xiàn)穩(wěn)定性好

      說(shuō)明:光學(xué)系統(tǒng)沒(méi)問(wèn)題,主要是進(jìn)樣系統(tǒng)造成的

      原因:

      a、霧化器堵塞,霧化效率變差。(原因可能由于含鹽量高、或者溶液中細(xì)小粉末吸附在霧化器內(nèi)表面造成的)。這種情況下,通常強(qiáng)度一直往下降。

       b、霧化室積水或者掛水。通常強(qiáng)度上下變化。

       c、進(jìn)樣系統(tǒng)漏氣。通常強(qiáng)度上下變化。

       d、泵管老化,蠕動(dòng)泵泵夾位置不正確。

      ii:C線(xiàn)穩(wěn)定性好,Ar線(xiàn)不好。

      說(shuō)明:長(zhǎng)波穩(wěn)定性差。

      原因:有可能是快門(mén)或者狹縫切換有問(wèn)題。

      iii:Ar線(xiàn)和C線(xiàn)穩(wěn)定性都差。

      說(shuō)明:儀器光學(xué)系統(tǒng)或者發(fā)生器有問(wèn)題。

      原因:

           a、采光管是否有東西擋光。

            b、CID檢測(cè)器是否結(jié)霜。通常峰形發(fā)生變化。

            c、檢查功率穩(wěn)定性(監(jiān)測(cè)IP電流變化)。

      第二種情況:峰位左右漂移

      原因:

           a、光室恒溫系統(tǒng)不穩(wěn)定。

            b、循環(huán)水散熱差。

            c、排風(fēng)系統(tǒng)風(fēng)量太小或者太大

       

      ICPAAS使用過(guò)程中所遇到的那些干擾

       

      1、ICP-MS干擾

      質(zhì)譜干擾

      質(zhì)譜干擾(同量異位素干擾)是預(yù)知的,如,58Ni對(duì)58Fe的干擾,可以使用元素校正方程、采用“冷等離子體炬焰屏蔽技術(shù)”或“碰撞池技術(shù)”降低影響。

      基體酸干擾

      HCI、HCIO4、H3PO4、H2SO4會(huì)引起質(zhì)譜干擾,可使用“碰撞池技術(shù)”、電熱蒸發(fā)等予以消除,用HNO3配制試液也可以避免質(zhì)譜干擾。

      基體效應(yīng)

      試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液粘度的差別會(huì)改變各種溶液產(chǎn)生氣溶膠的效率,可采用基體匹配法及內(nèi)標(biāo)法消除。

      電離干擾

      試樣中含有高濃度的第Ⅰ族和第Ⅱ族元素回產(chǎn)生電離干擾,可采用基體匹配法、稀釋試樣、標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法、同位素稀釋法等消除。

      2、ICP-AES干擾

      光譜干擾

      ICP-AES的光譜干擾較為嚴(yán)重,可使用高分辨率的光譜儀、應(yīng)用動(dòng)態(tài)背景校正等方法來(lái)消除干擾,進(jìn)步正確度。

      基體效應(yīng)

      與ICP-MS相同,可采用基體匹配法及內(nèi)標(biāo)法消除。

      電離干擾

      仔細(xì)選擇各個(gè)元素的分析條件、加進(jìn)消電離劑或采用標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法,都可以減少電離干擾的影響。

      FlameAAS干擾

      化學(xué)干擾

      在高溫火焰中,干擾物與被測(cè)元素形成較強(qiáng)的化學(xué)鍵,或天生高溫難熔晶體,不易原子化。可加進(jìn)開(kāi)釋劑、保護(hù)劑、助熔劑、改變火焰性質(zhì)予以消除。

      電離干擾

      可選擇合適的火焰種類(lèi)和火焰溫度以及加進(jìn)消電離劑等方法消除。。

      背景干擾

      可采用雙波長(zhǎng)法、氘燈校正、塞曼效應(yīng)、自吸收法等消除。

       

      ICPAAS使用過(guò)程中你所遇到的那些技術(shù)指標(biāo)

       

      檢出限

      ICP-MS的檢出限最優(yōu),大部分元素為ppt級(jí);GFAAS 次之,檢出限為亞ppb級(jí);ICP-AES一般為1-10 ppb;而FlameAAS的檢出限大部分為10-100 ppb。

      精密度

      ICP-MS的精密度(RSD)一般為1%-3%,ICP-AES的精密度為0.3%-2%,GFAAS的精密度最差為1%-5%,而Flame AAS的精密度最優(yōu)為0.1%-1%。

       

      線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍

      ICP-MS具有高達(dá)108的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍(LDR);ICP-AES也有105以上的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍;GFAAS最差,僅為102;Flame AAS的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍為103。

      操縱難度

      ICP-AES的自動(dòng)化是最成熟的,可以由技術(shù)并不熟練的職員來(lái)應(yīng)用已制定的方法進(jìn)行測(cè)定工作。最近幾年,ICP-MS在計(jì)算機(jī)控制和智能化軟件方面已經(jīng)有了很大的進(jìn)步,操縱也比較簡(jiǎn)便,但它的方法研究非常復(fù)雜和費(fèi)時(shí)。GFAAS的分析操縱固然比ICP-MS要輕易,但制定方法仍需要相當(dāng)熟練的技術(shù)。Flame AAS的操縱則相對(duì)比較簡(jiǎn)單輕易。

      另外一個(gè)應(yīng)該考慮的重要因素是,ICP-MS、ICP-AES和GFAAS由于自動(dòng)化程度較高以及使用安全的惰性氣體,因而可以在無(wú)人看管下連續(xù)長(zhǎng)時(shí)間工作,極大的減低了職員的勞動(dòng)強(qiáng)度并進(jìn)步了工作效率。

       

      ICP超強(qiáng)的樣品分析能力

       

      ICP-MS具有強(qiáng)大的分析丈量痕量元素的能力,每個(gè)樣品的分析時(shí)間小于5 min,在某些情況下只需2 min,就能同時(shí)測(cè)定所有元素;全譜直讀ICP-AES每個(gè)樣品的分析時(shí)間為2 min,能一次同時(shí)測(cè)定數(shù)十個(gè)元素;GFAAS每個(gè)樣品每個(gè)元素需3~4 min;Flame AAS每個(gè)樣品測(cè)定一個(gè)元素約需20 s。與AAS技術(shù)相比,ICP的工作效率具有明顯的上風(fēng)。

      ICP-MS一般只能分析固體溶解量為0.2%左右的溶液,F(xiàn)lame AAS為3%以?xún)?nèi),而 ICP-AES和GFAAS則有較大的上風(fēng),可分析固體溶解量超過(guò)20%的溶液。

       

      儀器用度比較

       

      粗略地估計(jì),儀器的基本投資ICP-MS約為ICP-AES的兩倍,ICP-AESGFAAS的兩倍,GFAASFlameAAS2~3倍。自動(dòng)化程度如何以及附件的配置,會(huì)使估計(jì)有所變化,另外,超痕量分析所必須的超凈實(shí)驗(yàn)室也需要一定的投資。

      ICP-MSICP-AES的霧化器和炬管的壽命是相同的,但由于ICP-MS的一些部件如分子渦輪泵、取樣錐、截取錐、檢測(cè)器等有一定的使用壽命而需要更換,所以它開(kāi)機(jī)工作的用度明顯高于ICP-AES。ICPGFAAS都需要Ar氣,但GFAAS的用量要少得多,而且GFAAS的消耗品以石墨管為主,所以GFAAS的運(yùn)行用度要低于ICP-AESFlameAAS的主要消耗品僅是乙炔等燃?xì)?,?/span>FlameAAS的工作用度最低。

       

      選擇哪種技術(shù)或儀器,應(yīng)該綜合考慮以下因素:


      每星期的樣品數(shù)目;

      樣品的類(lèi)型(地表水、污水、土壤、礦石、金屬等);

      需要分析哪些元素及其濃度范圍;

      是否需要測(cè)定同位素;

      使用哪種前處理方法;

      可提供試樣的體積;

      預(yù)備購(gòu)買(mǎi)哪些選購(gòu)件和附件;

      有多少購(gòu)買(mǎi)資金;

      能提供多少運(yùn)行經(jīng)費(fèi);

      分析職員的技術(shù)水平如何。

      并根據(jù)各因素對(duì)你的重要程度,再作出抉擇。

      例如:樣品量非常大,每個(gè)樣品需測(cè)定5個(gè)以上元素,濃度在ppb至亞ppb級(jí),假如經(jīng)費(fèi)充裕,則選擇ICP-MS比較合適。

      又如:作為一個(gè)以分析地表水、海水、產(chǎn)業(yè)廢水為主,土壤、底質(zhì)為輔的環(huán)境監(jiān)測(cè)三級(jí)站,假如經(jīng)費(fèi)許可,則選擇ICP-AESGFAAS的組合較為適宜。


      小結(jié)


      每一種技術(shù)都有一定的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),更沒(méi)有一種技術(shù)能完全滿(mǎn)足所有的要求。根據(jù)自己的具體情況,綜合考慮各種因素,權(quán)衡利弊,每個(gè)實(shí)驗(yàn)室必能找到一種適合自己的最佳選擇。

       

      參考文獻(xiàn)

      1.魏復(fù)盛,水和廢水監(jiān)測(cè)分析方法指南(中冊(cè)). 北京:中國(guó)環(huán)境科學(xué)出版社,1994

      2.魏復(fù)盛,徐曉白,閻吉昌,等. 水和廢水監(jiān)測(cè)分析方法指南(下冊(cè)). 北京:中國(guó)環(huán)境科學(xué)出版社,1997

      3.魏復(fù)盛,齊文啟. 原子吸收光譜及其在環(huán)境分析中的應(yīng)用. 北京:中國(guó)環(huán)境科學(xué)出版社,1988

      4.魏復(fù)盛,藤恩江. 水和廢水監(jiān)測(cè)分析方法. 4. 北京:中國(guó)環(huán)境科學(xué)出版社,2003

      5.徐正褆,ICPAAS的比較與選擇環(huán)境污染與防治雜志社


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