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      【技術(shù)細節(jié)】至關(guān)重要的“箝位電路”三個難題!

       六云ocbohngfbq 2017-05-20

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      引言

       

      要保證電源的可靠工作, 就必須限制最大漏極電壓。 請您在煩忙的工作之余稍事休息,來回答下面三個 關(guān)于如何設(shè)計和控制開關(guān)電源中漏極電壓的問題,從而測試一下您的電源設(shè)計知識。 

      三種常見的箝位電路(A、B、C)

      問題1:初級 

      問題

      在下圖中,請選擇最符合所述要求的電路圖:

      a. 低成本, 但能有效限制最大漏極電壓的箝位電路  

      b. 能非常好控制漏極電壓, 同時有最小空載功耗和最高效率的箝位電路  

      c. 一款能用于限制漏極峰值電壓同時能限制 MOSFET 關(guān)斷時的電壓上升斜率的電路 

      參考答案與分析

      問題:a)低成本、但能有效限制最大漏極電壓的箝位電路

      參考答案:

      耗散漏感能量最節(jié)省成本的方法就如電路‘B’,向 RC 網(wǎng)絡(luò)提供一個 箝位二極管。 這樣的電路稱之為“電阻-電容-二極管” (RCD)箝位 電路。

      漏感內(nèi)的能量將使漏極電壓升高,直到高于貯存在箝位電容 C 內(nèi)的電 壓,在這一點時二極管開始工作,漏極電壓得到箝制。 電阻器 RB 的選擇要考慮到在正常箝位電壓 V 的情 況下所耗散的能CLO所消耗的能量等于每一周期貯存在箝位電容內(nèi)的能量。VCLO 通常設(shè)定在高于反射輸出 電壓 50%左右,VOR。  

      電阻器 RA 的選用值要能限制反向電流,以防止二極管‘階躍',從而可能導(dǎo)致過分振蕩并可能出現(xiàn) EMI 問 題。 同時也減緩了箝位二極管 D 內(nèi)的電流上升,并抑制了 EMI 的產(chǎn)生,允許漏感上的最大箝位電壓以最 快、最有效地方式耗散能量。  

      由于電路“B”成本較低,因此常用它作為漏極箝位電路。 但在設(shè)計時一定要注意,因為箝位電壓是多個 元件公差和操作變量的函數(shù)(見問題3的答案)。

      問題:b)一個控制良好的箝位電路,能夠在限制最大漏極電壓的同時使空載耗能最低、效率最高。

      參考答案:

      電路‘C’是一個良好控制的箝位電路,能夠在精確控制最大漏極電壓限值的同時使空載能耗最低、效率 最高。 

      用一個穩(wěn)壓管或瞬態(tài)電壓抑制器 (TVS)精確設(shè)置箝位電壓 VCLO達到一 個特定的水平,使最大箝位電壓更 少地依賴于器件公差和操作變量。

      這個電路的空載能耗更低是因為當(dāng) 加在電容上的電壓下降到 VR 閾值以 下時,它將不再消耗能量。 相比之 下,一個 RCD 箝位電路持續(xù)放電, 耗散的能量將在下一周期進行補 充,從次級電路獲取能量,因而導(dǎo)

      致更多不必要的損耗。

      使用電容和串聯(lián)電阻器是為了降低對脈沖箝位電流的阻抗,同時在箝位二極管關(guān)閉、反向電流流動時提供 少量的電量貯存以提供電荷的抽取。 這樣更進一步地降低了箝位損耗,使空載和待機時耗能極少。

      問題:c)可以箝制漏極電壓或者可以限制關(guān)斷時漏極電壓上升斜率的一個電路。 

      電路‘A'即為在關(guān)閉時可用于箝制漏極電壓或限制漏極電壓上升斜率的電路。  

      雖然它的元件與圖‘B'的 RCD 箝位電路的元件基本相同,但有一個關(guān)鍵的不同點,就是電容 C 內(nèi)貯存的所 有能量必須在關(guān)斷其間由直流電壓總線提供。 在電路‘B'中,用于向箝位電容充電的電流在只有一個變 壓器的回路中流動。 在‘A'電路中,能量既流經(jīng)變壓器,也流經(jīng)初級大容量電容器。 這也就是說從供電 那里吸收到并貯存在箝位電容內(nèi)的能量越多,在每一個周期內(nèi)消耗的能量就越多,以保持一個穩(wěn)定的箝位 電壓。 由于其效率較低,這種電路通常不用作箝位電路。  

      但是這種電路有其他的作用,而不是用作箝位電路。 如果 RC 的時間常數(shù)較小,那么 C 在 MOSFET 開啟時 間內(nèi)會放電。 在關(guān)閉時,來自變壓器的電流此時會立刻經(jīng)過串聯(lián)二極管流入到電容內(nèi)。 這樣電容會減緩 漏極電壓的上升速度,特別是在較高的漏極電壓時.此時 MOSFET 的非線性漏極電容快速地下降。 這也為 初級流動的電流提供了轉(zhuǎn)換路徑,這樣就避免了大容量電容,直流總線及地線上電流的突然變化了。 它還 可以避免在供電干線上產(chǎn)生的差模噪音。 這兩種特點作為從源頭上降低 EMI 都是非常有用的。 這種方法 比增加昂貴的感性線濾波器要便宜,而線濾波器對效率也有重要的影響。  

      在低分布電容的變壓器中減緩上升速度允許 MOSFET 有更多的關(guān)閉時間,從而使 MOSFET 的能量消耗降低。 電阻器 R 消耗電容器的能量,因此當(dāng) MOSFET 開通時看不到多余的能量。 但是,這種電路的主要缺點是在上升時間上要想達到 任何理想的效果都會耗能非常大,必須注意它對整體系統(tǒng)效率的影響, 而且要權(quán)衡其它抑制 EMI 措施的成本。 

      問題2:高級 

      問題

      在設(shè)計‘B'電路時,下面的回答哪一個正確,哪一個錯誤? 

      a. 高漏感的變壓器能獲得最佳性能  

      b. 嚴(yán)格控制的漏極電流限值會更好地控制漏極的峰值電壓。 

      c. 應(yīng)盡可能選用最快的二極管 D  

      d. RA 應(yīng)盡量選用最低值  

      e. RB 應(yīng)盡量選用最低值  

      f. 重載會比輕載產(chǎn)生更高的漏極峰值電壓。  

      g. 應(yīng)在公差條件最差時檢查漏極的峰值電壓。 

      參考答案與分析

      問題:a)高漏感變壓器性能最好。 

      錯誤:除了在某些特殊的諧振拓樸電路里,否則高漏感總是我們不希望的。

      問題:b)嚴(yán)格控制漏極電流限值會對漏極的峰值電壓有更好的控制 

      正確:對漏極峰值電流的控制就是控制了貯存在漏極電感內(nèi)能量的多少。 這也就更好地控制了在箝位電 路中必須消耗的峰值能量,因而具有更穩(wěn)定的性能。 

      問題:c)應(yīng)盡可能選用較快的二極管 D  

      錯誤:在應(yīng)用時要認(rèn)真選擇箝位二極管的特性。 在某些應(yīng)用中,由于 關(guān)斷電流的循環(huán),貯存在箝位電容內(nèi)的一些能量會流回到系統(tǒng)進行再利用,因而一個較慢的二極管可能會 使系統(tǒng)效率大大提高。 較慢的二極管還有一個優(yōu)點就是它比快的二極管產(chǎn)生更少的 EMI,同時還可以提高 交叉穩(wěn)壓精度。 然而,雖然當(dāng)需要考慮效率或 EMI 因素時可以使用慢的二極管,但也要特別注意在高應(yīng) 力情況下檢查二極管的溫度,因為二極管在溫度升高時速度會更慢,如果選擇不當(dāng)會出現(xiàn)二極管過熱損壞 的現(xiàn)象。 通常情況下會使用一個串聯(lián)電阻器(RA)與慢速二極管連接,以幫助控制關(guān)斷特性。  

      問題:d)RA 應(yīng)盡量選用最低值  

      錯誤:RA 應(yīng)選用使漏極峰值電壓保持在安全范圍內(nèi)的最高值。 使 RA 值過低會提高二極管峰值電流,加快 關(guān)閉時間,從而引起更高的 EMI。 相反,RA 值較高雖然會消耗一些能量,但通常會通過降低恢復(fù)時間提 高電源的總體效率。  

      問題:e)RB 應(yīng)盡量選用最低值  

      錯誤:RB 應(yīng)選用使漏極的峰值電壓保持在安全范圍內(nèi)的最高值。 RB 值較低會降低漏極峰值電壓,但同時 也會迅速導(dǎo)致系統(tǒng)功耗的增加,因為它會增加漏感電流的恢復(fù)時間,從而使從變壓器初級線圈內(nèi)轉(zhuǎn)移能量 需要更長的時間。  

      問題:f)較高的輸出負載將比較低的輸出負載產(chǎn)生更高的漏極峰值電壓。 

      正確:此處電壓模式、PWM 控制的,對于一個特定的變壓器設(shè)計,較高的輸出負載會導(dǎo) 致較高的尖峰峰值電流,因而會導(dǎo)致更多的能量傳入到箝位系統(tǒng)中,產(chǎn)生較高的平均電壓。 對于使用固 定電流限值、開/關(guān)穩(wěn)壓控制的器件,此效果不是很明顯。 然而,當(dāng)以較高負載運行時, 跳過的周期數(shù)較少,因而箝位電容的平均電壓還會隨著負載的增加而升高。  

      問題:g)應(yīng)在公差條件最差時檢查漏極的峰值電壓。  

      正確:應(yīng)綜合考慮元件公差、負載(包括靜態(tài)負載和瞬態(tài)負載)、溫度和直流干線的影響, 在最壞情況下監(jiān)測器件,以保 證漏極電壓保持在其額定限值的安全范圍內(nèi)。

      問題3:專家級 

      問題

      當(dāng)設(shè)計一個箝位電路來確保漏極電壓不超出器件的安全范圍, 有哪些設(shè)計要點? 應(yīng)怎樣測試來驗證你的 設(shè)計?

      參考答案與分析

      進行任何箝位電路設(shè)計最開始一項工作都是確定 MOSFET 的最大容許漏極電壓。除此以外, 為安全起見,留有 5-10%的安全裕量以應(yīng)對浪涌實驗及外部交流供電失常:因此,在電源設(shè)計時經(jīng)常將700V的MOSFET以 650 V 作為最差情況下最大漏極電壓的限定值。 

      由于箝位電壓是曡加在輸入供電干線上的,因此需要考慮供電電壓的極限值。 雖然電源通常都會標(biāo)定額 定電壓的范圍,但在某些情況下會發(fā)生浪涌或電壓跳變(例如,輸入電壓的額定值為 230 VAC 的可能會超 過 300 VAC)。 考慮到這一點,在進行測試時要使用最壞條件下的交流輸入值以保證絕不能超過 700 V 的額定BVDSS 700 V 值。

      箝位系統(tǒng)消耗能量多少是由每一周期儲存在漏感內(nèi)的能量多少所決定的。 漏感內(nèi)的能量 E 是這樣定義

      在這里: 

      LL為漏極電感

      IDIODE-P為箝位時的箝位二極管峰值電流。  

      還有(MAX)表示這些變量的最差條件。  

      因而,在測試漏極最大峰值電壓應(yīng)使用具有最大漏感L(MAX)的變壓器來測量L(MAX)。  

      還要注意二極管峰值電流 IDIODE-P(MAX),不一定非要與初級電路內(nèi)的峰值電流一樣。 它通??梢栽诔跫壏逯惦?流 50%-80%處的任意一點,并且應(yīng)該在系統(tǒng)中進行測量確認(rèn)。 測量值與理論值不一樣可能是由于:  

      · 寄生效應(yīng)和/或次級緩沖電容網(wǎng)絡(luò)通過反射并聯(lián)在初級繞組的兩端, 從而延遲了初級電感上的電壓上升時間。  

      · 由于串聯(lián)電阻器 RA 減緩了箝位二極管電流上升到最大值所需要的時間,使得漏感和磁通有足夠的時間恢復(fù)。 

      由于次級緩沖網(wǎng)絡(luò)可能影響箝位系統(tǒng)內(nèi)的能量大小,因此對這些元件要認(rèn)真地加以選擇,以便有助于減少 箝位二極管峰值電流,從而降低漏極的峰值電壓。  

      由于箝位二極管峰值電流直接與初級峰值電流相關(guān),因此應(yīng)該測試使初級電流最大化的條件,例如用脈沖 負載使器件工作在其電流極限值處。 電流限值隨著器件公差的變化將直接影響漏極的峰值電流。 

      電阻器 RA 等效于同箝位二極管串聯(lián),因此它的數(shù)值直接影響峰值的箝位電壓。 箝位電阻器 RB 消耗的能 量等于每一周期儲存在箝位電容器內(nèi)的能量。 這樣處于公差上限的電阻器需要施加較高的電壓才能消耗 同樣多的能量,這樣一來就提高了漏極的峰值電壓。 因此,對峰值電壓的測定應(yīng)同時取兩個器件的公差 上限(典型值 5%)進行測量。  

      由于二極管的峰值電流受二極管儲存時間的影響,因此要測量何時在反向關(guān)斷電流其間恢復(fù)的能量是最少 的。 這一點當(dāng)二極管在其溫度范圍的下限工作時最為明顯,此時的儲存時間明顯地最短。  

      另一個對峰值電壓有直接影響的參數(shù)就是初級反射電壓,VOR。它主要受反饋電路中公差的影響。 測試時, 要對反饋元件進行臨時調(diào)節(jié),將調(diào)節(jié)后的次級輸出設(shè)定在公差上限,使其達到最大值 VOR。  

      考慮到上述各種因素,電源應(yīng)在規(guī)定的負載條件下,使用的上述器件并在標(biāo)定公差的極限值進行測試。 最大的漏極電壓 經(jīng)常在溫度較低時出現(xiàn),因此應(yīng)在低溫時最大輸入電壓的情況下開始進行測試。 為了測試的完整性,應(yīng)監(jiān)控從溫?zé)岬竭_ 到最大額定溫度的整個過程的漏極電壓。 

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      第一部分:開關(guān)電源BUCK部分(30小時)
      一是基于PTS5430芯片的Buck電路;
      二是基于分立器件去搭Buck電路;
      三基于LNK306芯片的BUCK電路。
      第二部分:BOOST部分(10小時)
      基于UC3842電源芯片的Boost電路。
      第三部分:功率因素校正(PFC)部分(20小時)
      基于NCP1654芯片的PFC部分

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