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      查漏補(bǔ)缺:教你正確操作 XPS 分峰軟件 XPSPEAK

       天空的城523 2019-04-19

      一、引言

      X射線光電子能譜(XPS):利用X射線輻射樣品,使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來,光子激發(fā)出來的電子稱為光電子,利用能量分析器分析光電子的能量,作出光電子能譜圖,橫坐標(biāo)一般為結(jié)合能,縱坐標(biāo)為相對強(qiáng)度。

      XPS的高表面靈敏度,非結(jié)構(gòu)破壞性能力和其可獲得化學(xué)態(tài)信息的能力使其成為表面分析極有力的工具。XPS譜圖可以提供的信息有樣品的組分、化學(xué)態(tài)、表面態(tài)、表面價電子結(jié)構(gòu)、原子和分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)、化學(xué)鍵合情況等:

      科研工作中我們拿到手的XPS數(shù)據(jù)需要我們根據(jù)樣品的信息將不同元素的高分辨譜加以分峰擬合,才能得到樣品表面結(jié)構(gòu)的有效信息,今天就介紹一款簡單好用的XPS分峰軟件——XPSPEAK,并結(jié)合案例分享一下利用XPS分析材料表面信息的過程。

      二、軟件安裝介紹

      以Windows為例介紹軟件的安裝過程:下載軟件包后解壓,解壓文件夾打開如下圖所示,雙擊XPSPEAK41.exe文件進(jìn)行安裝,安裝過程與普通安裝軟件相同,無需產(chǎn)品序列號等。

      軟件安裝好打開后有兩個窗口XPS Peak Fit和XPS Peak Processing,從XPS Peak Fit窗口的工具欄可以看出這是對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析的窗口,導(dǎo)入導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)、擬合后數(shù)據(jù),選擇背景基線,添加譜峰,進(jìn)行擬合等都要在這個窗口進(jìn)行。而XPS Peak Processing窗口中可以看到已添加或擬合的譜峰的具體數(shù)據(jù)以及擬合后卡方的大小。

      三、軟件操作實例

      第一步:導(dǎo)入數(shù)據(jù)。

      點擊Data—Import(ASCII),選擇所需的txt文件(要把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成txt),以下以鐵元素的譜圖分析為例。

      第二步:選擇本底。

      點擊Background,high BE和low BE最好不要改,否則回到origin作圖時比較麻煩,本底連接這兩點,type一般選擇shirley,這幾個參數(shù)沒有固定的選擇,都可根據(jù)實際情況調(diào)整,以最終擬合準(zhǔn)確度最高為原則。

      第三步:添加譜峰。

      點擊Add peak, Peak Type處選擇峰類型 s, p, d, f 等,在 Position 處選擇峰位置,如峰位置需固定則點選fix前的方框,constraints 可以固定此峰與另一峰的關(guān)系,比如同價態(tài)下 2p3/2 的峰面積是   2p1/2 的2倍,半峰寬接近 1:1 等限制條件。半峰寬(FWHM)、峰面積(Area)的設(shè)置同上。點擊 accept添加此峰,再點擊 Add peak 繼續(xù)添加。

      第四步擬合。

      設(shè)置好所需擬合的峰的個數(shù)及大致參數(shù),點擊 Optimise region 進(jìn)行擬合,多次點擊直至卡方數(shù)值不再減小,觀察擬合后總峰譜線與原始譜線重合情況。參數(shù)查看點擊 XPS Peak Processing 窗口中Region Peaks 下方各峰的序號,所選峰即紅色線。如擬合效果不好,重新調(diào)整各譜峰參數(shù)再次點擊 Optimise 擬合。

      第五步:保存數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)輸出。

      點擊Save XPS會保存一個后綴為xps的文件,想繼續(xù)處理這個譜圖就點Open XPS打開這個文件就可以。Data—Print with peak parameters可以得到帶有各峰參數(shù)及譜圖的PDF文件;Data—Export to clipboard可以將各峰參數(shù)及譜圖復(fù)制到剪切板上;Data—Export(spectrum)可以將擬合好的譜圖數(shù)據(jù)保存,并能夠在origin多列數(shù)據(jù)中打開作圖。

      寫在最后

      很多入門的同學(xué)拿到XPS數(shù)據(jù)后面臨的問題是不知道對某元素的高分辨譜應(yīng)該怎么分峰,這個過程沒有捷徑,只能再理解XPS測試原理的基礎(chǔ)上多看文獻(xiàn),結(jié)合材料的制備及其他表征結(jié)果確定材料表面信息?;蠎B(tài)的分析是XPS最主要的應(yīng)用之一,通過元素譜圖中峰位的化學(xué)位移就能識別其化合態(tài),化學(xué)位移與原子上的總電荷有關(guān),價電子減少則結(jié)合能增加,化學(xué)位移能夠分析出元素的氧化態(tài)形式、取代物的電負(fù)性及數(shù)目等,是XPS分析中極有用的切入點。

      安裝包及教程下載鏈接:

      https://pan.baidu.com/s/1KOuCt4-bI2YlDJEhCssAsA

      提取碼:bkga

      本文由作者春春供稿。

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