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大題一般都是函數(shù)與幾何的綜合應(yīng)用試題，做為壓軸題，本題一般都設(shè)３－４個(gè)問(wèn)題，（1）題容易上手，第（2）題中等 難度，但一般還是屬于常規(guī)題型，第（3）和（4）題較難，對(duì)學(xué)生的能力要求較高，探索性較強(qiáng)。試題呈現(xiàn) “起點(diǎn)低， 坡度緩，尾巴略翹”的原則，大題涉及的知識(shí)點(diǎn)比較多， 綜合性強(qiáng)，具體考查的知識(shí)點(diǎn)有：“二次函數(shù)、一次函數(shù)、一元二次方程、平行四邊形、三角形、線段垂直平分線、勾股定理、相似三角形”等知識(shí)，及動(dòng)態(tài)幾何問(wèn)題中函數(shù)關(guān)系的建立、應(yīng)用。

一、考點(diǎn)規(guī)律分析

1.求點(diǎn)的坐標(biāo)

對(duì)于求點(diǎn)的坐標(biāo)，是我們常見(jiàn)的最簡(jiǎn)單的考點(diǎn)之一，此類考點(diǎn)單獨(dú)出一個(gè)小題比較少，主要是解決問(wèn)題過(guò)程中去求解，所以我們?cè)趶?fù)習(xí)時(shí)，應(yīng)從以下幾個(gè)方面去把握：

①平面直角坐標(biāo)系中特殊點(diǎn)的坐標(biāo)，如坐標(biāo)軸上點(diǎn)的坐標(biāo)，象限角平分線上的點(diǎn)的坐標(biāo)；

②一次函數(shù)與坐標(biāo)軸的交點(diǎn)坐標(biāo)；

③二次函數(shù)與坐標(biāo)軸的交點(diǎn)坐標(biāo)和頂點(diǎn)坐標(biāo)；

④兩條線的交點(diǎn)坐標(biāo)。

2.求函數(shù)關(guān)系式

求函數(shù)關(guān)系式也是大題必考的考點(diǎn)，復(fù)習(xí)時(shí)，我們應(yīng)讓掌握用待定系數(shù)法求一次函數(shù)和二次函數(shù)關(guān)系式，特別是求二次函數(shù)關(guān)系式求二次函數(shù)關(guān)系式方法：一般式，頂點(diǎn)式，兩根式。

3.求圖形的面積

對(duì)于圖形， 求面積的方法通常有：

1. 直接法： 直接利用公式求解（ 通常在規(guī)則的圖形： 如三角形、 特殊四邊形、 圓）

2. 割補(bǔ)法： 當(dāng)直接法求解比較困難時(shí)， 通常用割補(bǔ)法， 常把圖形分割為： 三角形， 四邊形面積求解）

這幾年中考題中， 出現(xiàn)了一類新的題型， 它以拋物線為試題背景， 采用點(diǎn)在拋物線上運(yùn)動(dòng)的方式， 求坐標(biāo)系下斜三角形的面積。

記住標(biāo)準(zhǔn)斜三角形的特征： 三個(gè)頂點(diǎn)都在拋物線上。

4.求最值問(wèn)題

對(duì)于最大最小值問(wèn)題， 實(shí)際上是轉(zhuǎn)化為求二次函數(shù)的最值問(wèn)題． 常見(jiàn)的類型有：

（１） 求圖形面積的最大最小值，

（２） 求線段長(zhǎng)的最大最小值．

應(yīng)考策略是：

1.首先求出所求問(wèn)題的二次函數(shù)解析式，

2. 然后再求頂點(diǎn)坐標(biāo)， 就可以求出最值問(wèn)題。

總結(jié)

中考時(shí)除了對(duì)題型的必要掌握，還應(yīng)該從很多細(xì)節(jié)入手，給自己交一份滿意的答卷。在書寫時(shí)一定要避免：字跡不工整，不清晰，出現(xiàn)錯(cuò)別字，字母與符號(hào)書寫不正確，計(jì)算或者化簡(jiǎn)沒(méi)有寫最后結(jié)果，漏寫單位，函數(shù)表達(dá)式漏寫“y=”等情況。另外還應(yīng)該注意：

1. 輔助線必須作文字運(yùn)算；

2. 推理過(guò)程不能跳步，一個(gè)邏輯段只能用一個(gè)定理；

3. 幾何計(jì)算中列方程一定要交代列式依據(jù)；

4. 已給的條件運(yùn)用時(shí)比須交代。