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      高壓IGBT串聯(lián)均壓控制電路閾值電壓設(shè)計方法

       陸號魚 2019-08-09
      作者:海飛樂技術(shù) 時間:2018-08-16 17:41

        IGBT結(jié)合了MOSFET和BJT的優(yōu)點,具有額定電壓高、開關(guān)速度快、驅(qū)動簡易等優(yōu)勢。但是,目前單個IGBT器件的電壓、電流等級仍不能滿足高壓大容量變頻器、高壓直流輸電等應(yīng)用場合的需要。將IGBT器件串聯(lián)使用是提高系統(tǒng)電壓等級、容量等級的一種有效方法,國內(nèi)外研究機構(gòu)針對IGBT串聯(lián)技術(shù)進行了廣泛的研究,重點在于保證串聯(lián)支路各器件的電壓均衡,包括靜態(tài)電壓均衡與動態(tài)電壓均衡。
       
        造成串聯(lián)IGBT器件靜態(tài)電壓不均衡的原因主要是各器件關(guān)斷穩(wěn)態(tài)下的伏安特性有差異。
       
        對于串聯(lián)支路來說,各IGBT在關(guān)斷穩(wěn)態(tài)時具有相同的漏電流,但在該工況下的等效漏電阻不盡相同,漏電阻較大的IGBT器件將承受較高的關(guān)斷穩(wěn)態(tài)電壓。
       
        造成串聯(lián)IGBT器件動態(tài)電壓不均衡的因素較多,主要包括器件參數(shù)不一致、驅(qū)動電路參數(shù)不一致、控制信號不一致、換流回路參數(shù)不一致等。為保證串聯(lián)IGBT動態(tài)電壓均衡,需要在器件外圍添加均壓電路。國內(nèi)外文獻(xiàn)中提出了多種串聯(lián)均壓電路,包括負(fù)載側(cè)的無源緩沖電路與箝位電路、門極側(cè)的同步控制電路、有源控制電路與有源箝位電路等。
       
        負(fù)載側(cè)無源緩沖吸收電路主要為C、RC、RCD這3種,其主要作用均為降低器件關(guān)斷過程中集射極電壓VCE的變化率,從而抑制電壓不均衡程度并限制過電壓。從能量角度來說,無源緩沖吸收電路是將IGBT串聯(lián)中不平衡的能量轉(zhuǎn)移并消耗在器件外部,這導(dǎo)致了該電路自身損耗較大,對于高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)這一影響將更加嚴(yán)重。ABB公司提出了一種負(fù)載側(cè)箝位電路,對RCD電路進行改進,在電阻支路加入穩(wěn)壓管Z,當(dāng)電容C上的電壓高于箝位值時才通過電阻R放電。該方法降低吸收電路自身損耗,但同時動態(tài)均壓效果相對減弱。對于負(fù)載側(cè)均壓電路來說,用于高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)中時大功率的穩(wěn)壓管與快恢復(fù)二極管選型均十分困難。
       
        門極側(cè)均壓電路相對更加復(fù)雜,各種電路拓?fù)湓趶?fù)雜程度、控制精度、動態(tài)均壓效果以及損耗等方面各有利弊。其中有源箝位電路具有電路簡單、可靠性高、適用于已有驅(qū)動電路的特點,可用于高壓IGBT串聯(lián)的動態(tài)均壓控制。這一電路的設(shè)計重點與難點在于選取合適的閾值電壓,如果閾值電壓設(shè)置過高,則無法起到動態(tài)電壓均衡與保護器件的效果;如果閾值電壓設(shè)置過低,則會導(dǎo)致箝位支路頻繁地、長時間地工作,增加損耗,降低電路運行的穩(wěn)定性與可靠性。高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)對于裝置的安全性、可靠性以及低損耗的要求更高,因此閾值電壓的設(shè)計顯得更加重要,現(xiàn)有文獻(xiàn)中尚未提出高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)中有源箝位電路的閾值電壓設(shè)計方法。
       
        本文介紹了一種應(yīng)用于高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)中的負(fù)載側(cè)均壓與門極側(cè)均壓相結(jié)合的串聯(lián)均壓方案,分析了均壓控制電路的原理。綜合考慮了開關(guān)瞬態(tài)過程中換流回路雜散參數(shù)與續(xù)流二極管正向恢復(fù)特性的影響,提出了針對高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)的箝位電路閾值電壓設(shè)計方法。該方法適用于多電平、多管串聯(lián)的高壓IGBT串聯(lián)變換器系統(tǒng)。最后,通過實驗驗證了該均壓電路的可行性與閾值電壓設(shè)計方法的實用性。
       
        1. 高壓IGBT串聯(lián)電路拓?fù)?/strong>
        高壓IGBT多管串聯(lián)電路單相拓?fù)淙鐖D1所示。采用靜態(tài)均壓電路、門極均壓控制電路相結(jié)合的技術(shù)方案以保證IGBT串聯(lián)支路各器件的電壓均衡。每個IGBT單元的均壓電路拓?fù)淙鐖D2所示。
       
        靜態(tài)均壓電路較為簡單,即在IGBT集電極C與發(fā)射極E間并聯(lián)一個阻值遠(yuǎn)小于IGBT漏電阻的靜態(tài)均壓電阻,可較好解決靜態(tài)均壓問題。門極均壓控制電路相對復(fù)雜,下面將著重對其工作原理與閾值電壓參數(shù)設(shè)計方法進行分析。

      高壓IGBT多管串聯(lián)單相電路拓?fù)涫疽鈭D 
      圖1 高壓IGBT多管串聯(lián)單相電路拓?fù)涫疽鈭D
      IGBT單元均壓電路拓?fù)? src= 
      圖2 IGBT單元均壓電路拓?fù)?/div> 
        2. 門極均壓控制電路原理
        選擇可靠性較高、適用于現(xiàn)有驅(qū)動電路的穩(wěn)壓管-二極管有源箝位方案作為高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng)的門極均壓控制電路,由串聯(lián)穩(wěn)壓管Z1~Zn、二極管D、串聯(lián)穩(wěn)壓管Z11~Z1m及與之并聯(lián)的電容C1、電阻R1以及限流電阻R2構(gòu)成箝位支路。
       
        設(shè)穩(wěn)壓管Z1~Zn串聯(lián)后總的擊穿電壓為VZ1,Z11~Z1m串聯(lián)后總的擊穿電壓為VZ2,則門極均壓控制電路箝位支路的兩個閾值電壓分別為動態(tài)箝位電壓閾值VZ1和靜態(tài)箝位電壓閾值VZ1+VZ2。只有當(dāng)集電極電壓高于動態(tài)箝位電壓閾值VZ1時,箝位支路才起作用。在其作用下,IGBT關(guān)斷過程可以分成3個階段,如圖3所示。
      箝位支路作用下IGBT關(guān)斷過程示意圖 
      圖3 箝位支路作用下IGBT關(guān)斷過程示意圖
       
        階段1:IGBT集–射極電壓VCE低于VZ1,在這個階段箝位支路并未開始工作,只有很小的漏電流流過,VCE以較快的變化率上升,IC減小。
       
        階段2:VCE上升至高于VZ1時,Z1~Zn導(dǎo)通,IGBT集電極電壓通過R2、Z1~Zn、D對電容C1充電,從而降低了VCE上升率。在此階段,箝位支路的作用相當(dāng)于在IGBT的CG極間并聯(lián)的電容,增強了IGBT的Miller效應(yīng),使先關(guān)斷器件的電壓上升率降低,動態(tài)減小串聯(lián)器件的電壓不平衡度。
       
        階段3:VCE上升至高于VZ1+VZ2,Z11~Z1m導(dǎo)通,VCE被箝位在略高于VZ1+VZ2的電壓(考慮電阻R2上的壓降),直到儲存在換流回路雜散電感中的能量全部消耗之后,關(guān)斷過程結(jié)束。

        在階段2和階段3,箝位支路向門極注入電流,使IGBT工作于線性區(qū),IGBT開關(guān)速度減慢,損耗急劇增加。因此,在設(shè)計了負(fù)載側(cè)均壓電路的前提下,不應(yīng)使門極均壓控制電路的箝位支路頻繁作用;而當(dāng)IGBT有過壓危險時,又要保證箝位支路可靠作用,將VCE箝位在IGBT耐壓值以下。按照上述原則設(shè)計箝位支路的參數(shù)。
       
        3. 閾值電壓設(shè)計方法
        為保證IGBT不工作在過壓狀態(tài),要求總體箝位閾值電壓低于IGBT所能承受的最大電壓VCES,即:
      VZ1+VZ2<VCES     (1)
        為避免門極均壓控制電路的箝位支路頻繁動作,一級有源箝位電壓VZ1應(yīng)略高于器件電壓均衡時的關(guān)斷尖峰電壓。同時考慮到控制效果與靈敏度的要求,可將一級有源箝位電壓VZ1與二級有源箝位電壓VZ2設(shè)計為
      計算公式1、2 
        可見,閾值電壓的設(shè)計與器件的關(guān)斷尖峰電壓Vpeak密切相關(guān)。
       
        對于多電平的IGBT串聯(lián)系統(tǒng),設(shè)電平數(shù)為m,每個串聯(lián)支路的器件數(shù)為n。當(dāng)IGBT器件完全均壓時,每個IGBT的關(guān)斷尖峰電壓由母線電壓、換流回路雜散電感、電流變換率以及續(xù)流二極管的正向恢復(fù)電壓共同決定,可表示為
      計算公式4 
       
      式中:VDC為直流母線電壓;Vf為反并聯(lián)二極管正向恢復(fù)電壓(陰極到陽極的壓降);Ls為換流回路總體雜散電感;ic為器件集電極電流。
       
        3.1二極管正向恢復(fù)電壓計算方法
        在正向恢復(fù)過程中,二極管電壓與其電流的關(guān)系可表示為
      計算公式5 
      式中:VT為溫度電壓當(dāng)量(室溫下約為26mV);TM為運輸時間;RM0為基區(qū)初始電阻;qM為基區(qū)存儲電荷?;鶇^(qū)存儲電荷qM與二極管電流iD之間的關(guān)系可表示為
      計算公式6 
        式(6)右邊第一項表示少數(shù)載流子隨著時間的變化;第二項表示在少子壽命時間τ內(nèi)復(fù)合掉的少數(shù)載流子;第三項表示通過PN結(jié)擴散進入基區(qū)的少數(shù)載流子。若將二極管電流在開通過程中近似為線性變化,則可求得基區(qū)存儲電荷表達(dá)式為
      計算公式7 
      式中α為開通過程中電流的變化率。
       
        認(rèn)為IGBT關(guān)斷電壓尖峰在其電流ic下降至0.5IL時出現(xiàn),則此時二極管電流為?0.5IL,其基區(qū)電壓表達(dá)式可表示為
      計算公式8 
        運輸時間TM、載流子壽命τ可根據(jù)產(chǎn)品手冊列出的參數(shù)及測試條件計算得出,也可根據(jù)建模參數(shù)擬合近似得出?;鶇^(qū)初始電阻RM0可根據(jù)正向?qū)〞r二極管的電壓波形初始斜率和電流波形初始斜率計算得到。
       
        需要注意此處選取電壓尖峰位置在0.5IL處出現(xiàn)為經(jīng)驗值,由于此時二極管正向恢復(fù)電壓變化速率已較為緩慢,同時換流回路雜散電感的感生電勢是IGBT關(guān)斷電壓尖峰的主要組成部分,故取經(jīng)驗值計算其正向恢復(fù)電壓對最終計算關(guān)斷電壓尖峰值的影響較小。對所選用的IGBT器件進行單管實驗確定電壓尖峰位置將更加準(zhǔn)確。
       
        3.2 換流回路雜散電感電壓計算方法
        IGBT關(guān)斷過程中,將流經(jīng)器件的電流由0.9IL下降至0.1IL的過程近似為線性變化過程,則換流回路雜散電感上的壓降Vs可近似表示為
      Vs≈0.8LsIL/tf       (9)
      式中tf為IGBT器件關(guān)斷過程中電流的下降時間。
       
        需要注意的是,不同的IGBT器件其關(guān)斷時的拖尾電流有差異,拖尾電流部分應(yīng)排除在近似線性電流之外,因此可根據(jù)實際器件參數(shù)與單管試驗確定近似線性部分的電流取值。
       
        換流回路的雜散電感Ls主要由母排雜散電感Lbus、母線電容寄生電感LC以及器件內(nèi)部連線電感LIGBT組成,可表示為
      Ls=Lbus+LC+kLIGBT       (10)
      式中k為參與換流過程的IGBT器件個數(shù)。
       
        母線電容電感以及IGBT器件連線電感可從相應(yīng)的元器件數(shù)據(jù)表中進行查找。對于高壓IGBT串聯(lián)系統(tǒng),其換流回路母排結(jié)構(gòu)復(fù)雜、尺寸較大,因此其母排雜散電感Lbus需要通過部分單元等效電路(PEEC)方法與Ansoft Q3D仿真軟件相結(jié)合進行分析得到。PEEC方法從積分形式的Maxwell方程組出發(fā),將大尺寸、復(fù)雜結(jié)構(gòu)的導(dǎo)體分割成一定數(shù)量的小尺寸、結(jié)構(gòu)簡單的導(dǎo)體,即部分單元。通過Ansoft Q3D仿真軟件計算出各部分單元的雜散參數(shù)后,根據(jù)串并聯(lián)關(guān)系搭建研究對象整體的等效電路網(wǎng)絡(luò),再通過電路分析得到總體的等效雜散參數(shù)。參數(shù)提取流程如圖4所示。
      雜散參數(shù)提取流程圖 
      圖4 雜散參數(shù)提取流程圖
       
        綜上所述,對于m電平IGBT器件n管串聯(lián)系統(tǒng),在直流母線電壓為VDC、負(fù)載電流為IL的情況下,各器件完全均壓時每個IGBT的關(guān)斷電壓尖峰Vpeak可表示為
      計算公式11 
        依據(jù)式(2)、(3)即可對箝位電路電壓閾值VZ1、VZ2進行設(shè)定。
       
        4. 實驗驗證
        將此閾值電壓設(shè)計方法分別應(yīng)用于多電平與多管串聯(lián)的高壓IGBT串聯(lián)試驗平臺的參數(shù)設(shè)計中,進行實驗驗證。
       
        4.1三電平高壓IGBT串聯(lián)實驗平臺
        三電平高壓IGBT雙管串聯(lián)實驗平臺電路拓?fù)淙鐖D5所示。三相380V交流電源經(jīng)過自耦調(diào)壓器后形成0~380V可調(diào)的三相交流電,通過380V/10kV變壓器升壓至三相交流0~10kV,再經(jīng)過高壓整流橋得到直流電壓,該直流電壓通過充電電阻為直流母線電容充電。器件采用三菱公司生產(chǎn)的型號為CM600HG-90H的高壓IGBT和型號為RM600HE-90S的高壓二極管,其額定電壓、電流為4500V/600A。
       
        依據(jù)第3節(jié)所述方法,對母線電壓為6kV、負(fù)載額定電流為200A工況下的門極有源箝位電路電壓閾值進行設(shè)計。
       
        根據(jù)器件產(chǎn)品手冊列出的參數(shù)及單管測試實驗波形對3.1節(jié)所述二極管模型中的各參數(shù)進行擬合。根據(jù)式(8)估算得到在母線電壓為6kV、負(fù)載額定電流為200A工況下,二極管正向恢復(fù)電壓約為37V。
       
        根據(jù)三電平高壓IGBT雙管串聯(lián)實驗平臺機械結(jié)構(gòu),在Ansoft Q3D軟件中建立直流母排三維模型。三電平橋臂在開關(guān)動作過程中共有4種換流回路,其換流過程如圖6所示。其中,換流回路1與換流回路4在拓?fù)渖蠈ΨQ,均包含2個IGBT和2個二極管,稱為短換流回路;換流回路2與換流回路3在拓?fù)渖蠈ΨQ,均包含6個IGBT和2個二極管,稱為長換流回路。仍采用PEEC方法對4種不同的換流回路分別進行部分單元劃分與雜散參數(shù)計算。由于拓?fù)渑c母排結(jié)構(gòu)設(shè)計的對稱性,兩種短換流回路的母排雜散參數(shù)基本相同,約為237nH;兩種長換流回路的母排雜散參數(shù)也基本相同,約為466nH。
      三電平高壓IGBT串聯(lián)實驗平臺電路圖 
      圖5 三電平高壓IGBT串聯(lián)實驗平臺電路圖
      三電平IGBT串聯(lián)單相橋換流回路 
      圖6 三電平IGBT串聯(lián)單相橋換流回路
       
        依據(jù)產(chǎn)品手冊可知,半邊直流母線電容寄生電感值LC=100nH,IGBT器件內(nèi)部連線雜散電感值LIGBT=27nH。產(chǎn)品手冊未給出高壓二極管器件內(nèi)部雜散電感,在此近似認(rèn)為其與同電壓電流等級的IGBT器件內(nèi)部連線雜散電感相同。故短流回路總體雜散電感值Ls_short為
      Ls_short=237+100+4×27=445nH      (12)
        長換流回路總體雜散電感值Ls_long為
      Ls_long=466+100+8×27=782nH      (13)
        根據(jù)式(11)估算短換流回路每個IGBT的關(guān)斷電壓尖峰約為1635V,長換流回路每個IGBT的關(guān)斷電壓尖峰約為1719V。兩者相差不大,根據(jù)較高的長換流回路每個IGBT的關(guān)斷電壓尖峰設(shè)定箝位電路電壓閾值,即Vpeak=1719V。
       
        根據(jù)式(2)、(3)對箝位電路電壓閾值VZ1、VZ2進行設(shè)定,即1719V<VZ1<1891V,1891V<VZ1+VZ2<2235V。根據(jù)穩(wěn)壓管電壓等級,設(shè)定:
      計算公式14 
        在此箝位閾值下進行實驗測試。
       
        實驗機柜如圖7所示。使用配制了高速模塊720210 HS100M12的錄波儀Yokogawa DL850進行實驗記錄,采樣率為100MS/s。高壓差分探頭型號為PINTECH DP-20K,電流探頭型號為Rogowski CWT6。
       
      圖7 三電平高壓IGBT串聯(lián)實驗機柜
       
        當(dāng)長換流回路兩個串聯(lián)IGBT電壓均衡時,有箝位電路控制下的波形如圖8所示。可見,當(dāng)電壓均衡時,IGBT的關(guān)斷電壓尖峰約為1683V,處于一級箝位閾值以下,有源箝位電路不會動作。
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓均衡,有箝位電路) 
      圖8 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓均衡,有箝位電路)
       
        當(dāng)長換流回路兩個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,無箝位電路控制下的波形如圖9所示??梢?,當(dāng)門極信號延時為800ns時,兩個串聯(lián)IGBT電壓不均衡,若無箝位電路作用,IGBT的最大關(guān)斷電壓尖峰將達(dá)到2428V。
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓不均衡,無箝位電路) 
      圖9 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓不均衡,無箝位電路)
       
        當(dāng)長換流回路兩個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,有箝位電路控制下的波形如圖10所示。可見,當(dāng)門極信號延時為800ns時,兩個串聯(lián)IGBT電壓不均衡,在箝位支路作用下,IGBT最大關(guān)斷電壓尖峰為2116V,被限制在二級箝位閾值附近。
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓不均衡,有箝位電路) 
      圖10 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=6kV,IL=200A,電壓不均衡,有箝位電路)
       
        IGBT電壓尖峰計算值、箝位電壓閾值、不同實驗情況下的最大電壓尖峰值如表1所示??梢?,在兩個串聯(lián)IGBT電壓均衡的情況下,關(guān)斷電壓尖峰未達(dá)到閾值電壓,箝位支路不會動作;當(dāng)兩個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,箝位支路動作,電壓不均衡程度得到了明顯的抑制。
      表1 三電平實驗平臺不同情況電壓值比較(VDC=6kV,IL=200A)
      三電平實驗平臺不同情況電壓值比較 
       
        4.2 兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺
        兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺電路拓?fù)淙鐖D11所示。三相380V交流電源經(jīng)過自耦調(diào)壓器后形成0~380V可調(diào)的三相交流電,通過380V/6000V變壓器升壓至三相交流0~6000V,再經(jīng)過高壓整流橋得到直流電壓,該直流電壓通過充電電阻為直流母線電容充電。器件采用了三菱公司生產(chǎn)的型號為CM600HG-90H的高壓IGBT,其額定電壓、電流為4500V/600A。實驗過程中對上半邊4個串聯(lián)IGBT器件進行控制,開通時由母線電容對阻感負(fù)載供電,關(guān)斷時電流經(jīng)下半邊4個串聯(lián)IGBT器件的反并聯(lián)二極管進行續(xù)流。
      兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺電路圖 
      圖11 兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺電路圖
       
        依據(jù)第3節(jié)所述方法,對母線電壓為3.7kV、負(fù)載額定電流為240A工況下的門極有源箝位電路電壓閾值進行設(shè)計。根據(jù)器件產(chǎn)品手冊列出的參數(shù)及單管測試實驗波形對3.1節(jié)所述二極管模型中的各參數(shù)進行擬合。根據(jù)式(8)估算得到在母線電壓為3.7kV、負(fù)載額定電流為240A工況下,每個二極管正向恢復(fù)電壓約為65V。
       
        根據(jù)兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺機械結(jié)構(gòu),在Ansoft Q3D軟件中建立直流母排三維模型,采用PEEC方法對直流母排進行單元劃分與雜散參數(shù)計算,得到母排整體等效雜散電感值為Lbus=912nH。依據(jù)產(chǎn)品手冊可知,直流母線電容寄生電感值LC=200nH,IGBT器件內(nèi)部連線雜散電感值LIGBT=27nH,故換流回路總體雜散電感值Ls為
      Ls=912+200+8×27=1328nH      (15)
        根據(jù)式(9)估算換流回路雜散電感壓降Vs約為686V。
       
        根據(jù)式(11)估算每個IGBT的關(guān)斷電壓尖峰Vpeak約為1162V。
       
        根據(jù)式(2)、(3)對箝位電路電壓閾值VZ1、VZ2進行設(shè)定,即1162V<VZ1<1278V,1278V<VZ1+VZ2<1511V。根據(jù)穩(wěn)壓管電壓等級,設(shè)定:
      計算公式16 
        在此箝位閾值下進行實驗測試。
       
        實驗平臺與4.1節(jié)所述實驗平臺相同,將箝位二極管斷開即為兩電平四管串聯(lián)橋臂拓?fù)洹M瑯?,使用配制了高速模塊720210 HS100M12的錄波儀Yokogawa DL850進行實驗記錄,采樣率為100MS/s。高壓差分探頭型號為PINTECHDP-20K,電流探頭型號為Rogowski CWT6。
       
        當(dāng)4個串聯(lián)IGBT電壓均衡時,有箝位電路控制下的波形如圖12所示。
       
        可見,當(dāng)電壓均衡時,IGBT的關(guān)斷電壓尖峰約為1192V,處于一級箝位閾值以下,有源箝位電路不會動作。
       
        當(dāng)4個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,無箝位電路控制下的波形如圖13所示。
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓均衡,有箝位電路) 
      圖12 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓均衡,有箝位電路)
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓不均衡,無箝位電路) 
      圖13 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓不均衡,無箝位電路)
       
        可見,當(dāng)門極信號依次延時270ns時,4個串聯(lián)IGBT電壓不均衡,若無箝位電路作用,IGBT的最大關(guān)斷電壓尖峰將達(dá)到1936V。當(dāng)4個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,有箝位電路控制下的波形如圖14所示。
      IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓不均衡,有箝位電路) 
      圖14 IGBT關(guān)斷電壓波形(VDC=3.7kV,IL=240A,電壓不均衡,有箝位電路)
       
        可見,當(dāng)門極信號依次延時為270ns時,4個串聯(lián)IGBT電壓不均衡,在箝位支路作用下,IGBT最大關(guān)斷電壓尖峰為1402V,被限制在二級箝位閾值以下。
       
        IGBT電壓尖峰計算值、箝位電壓閾值、不同實驗情況下的最大電壓尖峰值如表2所示。可見,在4個串聯(lián)IGBT電壓均衡的情況下,關(guān)斷電壓尖峰未達(dá)到閾值電壓,箝位支路不會動作;當(dāng)4個串聯(lián)IGBT電壓不均衡時,箝位支路動作,電壓不均衡程度得到了明顯的抑制。
      表2 兩電平實驗平臺不同情況電壓值比較(VDC=3.7kV,IL=240A)
      兩電平實驗平臺不同情況電壓值比較(VDC=3.7kV,IL=240A) 
       
        上述實驗結(jié)果證明了這一門極均壓控制電路的可行性,閾值電壓設(shè)計方法應(yīng)用于多管串聯(lián)、多電平串聯(lián)電力電子變換器系統(tǒng)中,均起到了抑制串聯(lián)支路各IGBT器件動態(tài)電壓不均衡的效果。
       
        5. 結(jié)論
        針對高壓IGBT串聯(lián)技術(shù)中保證串聯(lián)支路各器件電壓均衡這一關(guān)鍵問題,本文介紹了一種負(fù)載側(cè)均壓與門極側(cè)均壓相結(jié)合的串聯(lián)均壓方案。對門極均壓控制電路的工作原理進行了分析,綜合考慮雜散參數(shù)與二極管正向恢復(fù)特性對IGBT關(guān)斷瞬態(tài)過程的影響,提出了閾值電壓這一關(guān)鍵參數(shù)的設(shè)計方法,該設(shè)計方法適用于多管串聯(lián)、多電平串聯(lián)電力電子變換器系統(tǒng)。將門極均壓控制電路與閾值電壓設(shè)計方法分別應(yīng)用于兩電平高壓IGBT四管串聯(lián)實驗平臺與三電平高壓IGBT雙管串聯(lián)實驗平臺中進行驗證,實驗結(jié)果表明,在串聯(lián)支路各IGBT器件電壓均衡的情況下,門極均壓控制電路不會動作,不增加損耗;在在串聯(lián)支路各IGBT器件電壓不均衡的情況下,門極均壓控制電路對電壓不均衡起到了顯著的抑制效果。均壓電路的可行性與閾值電壓設(shè)計方法的實用性得到了證明。

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